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1. 什(shen)么是“隱裂”

隱裂是(shi)晶(jing)體硅光伏組件的(de)一(yi)種較為常見的(de)缺陷，通(tong)俗的(de)講，就是(shi)一(yi)些肉眼不可見的(de)細微(wei)破(po)裂（micro-crack）。晶(jing)硅組件由于其(qi)自身晶(jing)體結構(gou)的(de)特性(xing)，十分(fen)容易發生(sheng)破(po)裂。

 在晶體(ti)硅(gui)組件生產(chan)的工藝流程中，許多環節都有可能(neng)造(zao)成(cheng)電(dian)池片(pian)(pian)隱裂(lie)(lie)。隱裂(lie)(lie)產(chan)生的根本(ben)(ben)原因，可歸(gui)納為(wei)硅(gui)片(pian)(pian)上產(chan)生了(le)機械應力(li)或(huo)熱(re)應力(li)。現在為(wei)了(le)降低成(cheng)本(ben)(ben)，晶硅(gui)電(dian)池片(pian)(pian)向(xiang)越(yue)來(lai)越(yue)薄的方向(xiang)發展，降低了(le)電(dian)池片(pian)(pian)防止(zhi)機械破(po)壞的能(neng)力(li)，更容易產(chan)生隱裂(lie)(lie)。

2. “隱裂”對組件性能的影響

晶硅太陽能電(dian)(dian)池(chi)(chi)的(de)結構如下圖所示，電(dian)(dian)池(chi)(chi)片產生的(de)電(dian)(dian)流主(zhu)要靠表面相互(hu)垂直的(de)主(zhu)柵(zha)(zha)線(xian)和細柵(zha)(zha)線(xian)收集和導出。因此，當隱(yin)裂（多為平行于主(zhu)柵(zha)(zha)線(xian)的(de)隱(yin)裂）導致細柵(zha)(zha)線(xian)斷裂時，電(dian)(dian)流將無法被有效輸送至主(zhu)柵(zha)(zha)線(xian)，從而導致電(dian)(dian)池(chi)(chi)片部分乃至整片失效，還可能造成(cheng)碎片、熱斑(ban)等，同時引起組(zu)件的(de)功率衰減。 

 垂直(zhi)于主柵線的隱裂幾乎不對細柵線造成影響，因(yin)此造成電池片(pian)失(shi)效(xiao)的面積幾乎為零。

而(er)正(zheng)處于快速(su)發展(zhan)的(de)薄膜太陽能電(dian)池，由于其(qi)材料、結構特性，不(bu)(bu)存(cun)在隱裂的(de)問題。同時其(qi)表面通過(guo)一層透明導電(dian)薄膜收集和傳(chuan)輸電(dian)流，即(ji)使電(dian)池片(pian)有小的(de)瑕(xia)疵(ci)造成(cheng)(cheng)導電(dian)膜破裂，也不(bu)(bu)會(hui)造成(cheng)(cheng)電(dian)池大面積失效。

有(you)研究顯示，組(zu)件(jian)中(zhong)(zhong)如果某(mou)個電池(chi)的(de)失效面積在8%以內，則對(dui)組(zu)件(jian)的(de)功率影響不大，并(bing)且組(zu)件(jian)中(zhong)(zhong)2/3的(de)斜條紋隱裂(lie)對(dui)組(zu)件(jian)的(de)功率沒有(you)影響。所以說，雖然隱裂(lie)是晶(jing)硅電池(chi)常(chang)見的(de)問(wen)題，但也不必過度擔心。

3. 識別“隱裂”的方法(fa)

EL（Electroluminescence，電致發(fa)光(guang)(guang)）是(shi)一種太陽能電池或組件的(de)(de)內部(bu)缺陷檢(jian)測(ce)設備，是(shi)簡單有(you)效(xiao)的(de)(de)檢(jian)測(ce)隱裂的(de)(de)方法。利用晶(jing)體硅的(de)(de)電致發(fa)光(guang)(guang)原理(li)，通(tong)過高分辨(bian)率的(de)(de)紅(hong)外相機拍攝組件的(de)(de)近(jin)紅(hong)外圖像，獲(huo)取并(bing)判(pan)定(ding)組件的(de)(de)缺陷。具有(you)靈敏(min)度(du)高、檢(jian)測(ce)速度(du)快、結(jie)果直觀(guan)形(xing)象等優(you)點。下圖即是(shi)EL的(de)(de)檢(jian)測(ce)結(jie)果，清晰(xi)的(de)(de)顯示了各種缺陷和隱裂。

4. 形成“隱裂”的原因(yin)

外力(li)：電池片在焊接、層壓、裝(zhuang)框(kuang)或搬運、安裝(zhuang)、施工等過程(cheng)中(zhong)會(hui)受外力(li)，當(dang)參數(shu)設置不(bu)當(dang)、設備(bei)故障或操作(zuo)不(bu)當(dang)時會(hui)造成隱裂。

高(gao)溫：電池片在低溫下沒有經(jing)過預熱，然(ran)后(hou)在短時間內突然(ran)受到高(gao)溫后(hou)出現(xian)膨脹會造(zao)成隱裂現(xian)象，如(ru)焊(han)接溫度(du)過高(gao)、層壓(ya)溫度(du)等參數設置不合(he)理。

原材料：原材料的缺陷也是導致隱裂的主(zhu)要因素(su)之一(yi)。

5. 預防(fang)光(guang)伏組件隱裂的要點

在(zai)生產過程中以(yi)及后續(xu)的存放(fang)、運輸(shu)、安(an)裝中避免電(dian)池片受(shou)到(dao)不當的外力介(jie)入，也注意儲(chu)存環境溫度變化范圍。

在焊接過程(cheng)中電池片要提前保(bao)溫(wen)(wen)（手焊）烙(luo)鐵溫(wen)(wen)度要符合(he)要求。